我一直在努力创建一个功能完备的Wavefront对象材质解析器,而在阅读规范时,我发现了关于“.rfl”文件的引用。然而,我无法找到有关此文件的更多信息。
据说,在Alias|Wavefront inc的“文件格式:版本4.2”的第8章“光谱曲线文件(.rfl)”中应该有更多信息,但我也无法找到它。
有人知道这个文件的更多信息吗?我知道缺乏关于它的信息可能意味着它未被使用和不必要,但我还是对它感兴趣。
我一直在努力创建一个功能完备的Wavefront对象材质解析器,而在阅读规范时,我发现了关于“.rfl”文件的引用。然而,我无法找到有关此文件的更多信息。
据说,在Alias|Wavefront inc的“文件格式:版本4.2”的第8章“光谱曲线文件(.rfl)”中应该有更多信息,但我也无法找到它。
有人知道这个文件的更多信息吗?我知道缺乏关于它的信息可能意味着它未被使用和不必要,但我还是对它感兴趣。
目前我还没有接触到文档,但是我至少可以描述一下这个格式。
我已经在这里记录了格式,但为了保险起见,我也会在此处嵌入编辑过的副本。
另外:我也注意到这个格式不能很好地表示光线追踪中的真实材料,并正在努力让我的光线追踪器能够更好地处理现代数据。如果您对此感兴趣,请搜索“复杂折射率”并阅读维基百科文章和其他来源。
RFL文件是纯文本、ASCII编码的文件。
空行和以#
或!
开头的行将被忽略。
RFL文件中的每个条目由两个数字组成,用空格分隔,以新行结尾:
例如:
450 .470
这个表面反射450nm的光线,保留了其亮度的47%。
如果你有一个没有相应条目的光波长,你可以插值周围的条目来找到合适的值。(简单的线性插值可能已经足够了?)
有几个文件包含以下额外条目:
n .44
k 3.2
因为它们被命名为n
和k
,几乎肯定与折射率有关,但问题是,折射率在不同波长下不同,因此无法很好地利用数据。