“test”指令是做什么用的？

Question

我正在查看一些小型汇编代码，我不太理解TEST指令及其用法。我在观察循环结尾处的以下代码：

8048531:    84 c0                   test   al,al
8048533:    75 dc                   jne    8048511 <function+0x2d>

我理解的TEST指令有点像AND运算符，它会设置一些标志位。但我并不完全理解这些标志位是如何工作的。test al,al 对我来说看起来像是检查相同的低位比特，并且总是得到相同的结果。

有人可以解释一下吗？

- danielhc

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@Evan：请不要为特定的x86指令创建更多的标签。如果你想讨论这个问题，我们可以在元社区进行讨论，但在讨论之后再打标签。 - Peter Cordes

@PeterCordes https://meta.stackoverflow.com/q/366109/124486 - Evan Carroll

Answer 1

它将寄存器与自身进行比较，仅设置标志位。对于零值和非零值，结果将不同。

- Bo Persson

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请澄清一下，什么时候TEST会产生使JNE跳转的结果？ - danielhc

如果被测试的寄存器为零，则设置ZF标志，否则清除该标志。JNE根据该标志跳转或不跳转。 - Bo Persson

JNE指令也被称为JNZ - "Jump if Not Zero"。在你的情况下，如果寄存器al不为零，就会执行跳转。 - user200783